WWW.UK.X-PDF.RU

БЕЗКОШТОВНА ЕЛЕКТРОННА БІБЛІОТЕКА - Книги, видання, автореферати

 
<< HOME
CONTACTS




Продажа зелёных и сухих саженцев столовых сортов Винограда (по Украине)
Тел.: (050)697-98-00, (067)176-69-25, (063)846-28-10
Розовые сорта
Белые сорта
Чёрные сорта
Вегетирующие зелёные саженцы

Продажа зелёных и сухих саженцев столовых сортов Винограда (по Украине)
Тел.: (050)697-98-00, (067)176-69-25, (063)846-28-10
Розовые сорта
Белые сорта
Чёрные сорта
Вегетирующие зелёные саженцы
Pages:     | 1 |   ...   | 13 | 14 || 16 | 17 |   ...   | 18 |

«В. І. Перекрестов ПРАКТИЧНІ МЕТОДИ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ Навчальний посібник Суми Сумський державний університет УДК 621.385.833(9758) ББК 22.33397 П27 Рецензенти: О. С. Кузема – ...»

-- [ Страница 15 ] --

Рисунок 9.22 – Електронограми від різних видів об’єктів (a – електронограма від монокристала; б – електронограма від полікристала; в – аксіально симетрична текстура із нахилом напрямку [uvw] щодо електронного пучка; г – текстура, при якій два і більше їх кристалографічних напрямки груп кристалів збігаються один з одним; д – електронограма, що відповідає перехідній формі від нетекстурованого до текстурованого полікристала; е – електронограма від аморфних об’єктів) Такий розподіл можливий за умови, коли дифракційні максимуми однієї групи повинні складати певну упорядковану гратку.

В подальшому встановлення текстури проводиться за правилами, розглянутими в розд.

9.4.3.

На закінчення розглянемо деякі особливості електронограм від різних видів об’єктів. У випадку, коли інтенсивність периферійних дифракційних максимумів на електронограмі від монокристала значно менша, ніж інтенсивність близьких до центра дифракційних максимумів (див. рис. 9.22 а) можна говорити про те, що товщина об’єкта значно перевищує 25 атомних площин.

Класичний варіант електронограми від нетекстурованого полікристала наведений на рис. 9.22 б.

При уважному розгляді кільцевих дифракційних максимумів можна встановити, що вони складаються з точкових відбиттів. Очевидно, що чим більші за розмірами кристали полікристалічних об’єктів, тим більша дискретність ліній електронограм. При цьому ширина ліній електронограм збільшується при зменшенні розмірів кристалів. Цю закономірність інколи використовують для оцінки середніх розмірів кристалів.

Необхідно також звернути увагу на будову електронограми від аморфних об’єктів (див рис. 9.22 е).

Незважаючи на відсутність чітких дифракційних максимумів, на електронограмі спостерігається певна закономірність у розподілу інтенсивності розсіяних електронів. Як буде показано в наступному розділі, ця закономірність також несе інформацію про будову неупорядкованих в структурному відношенні систем.

9.4 ДИФРАКЦІЯ ЕЛЕКТРОНІВ НА

НЕУПОРЯДКОВАНИХ У СТРУКТУРНОМУ

ВІДНОШЕННІ ОБ’ЄКТАХ Добре відомо, що кристалічні структури визначають як системи, що мають дальній порядок. Так, знаючи симетрію у розміщенні атомів елементарної комірки кристала, методом трансляції можна передбачити місця розміщення атомів у будь-якій області ідеального кристала. В неупорядкованому у структурному відношенні стані відсутня тривимірна періодичність у розміщенні атомів.

Разом із тим розміщення атомів у подібних структурах не є абсолютно випадковим, як це має місце в газах. Сили зв'язку, що діють між атомами в аморфному тілі, дуже схожі на сили у кристалі. Виходячи з цього і завдяки виконанню умов мінімуму вільної енергії та за відсутності дальнього порядку ближній порядок, взагалі кажучи, зберігається. Під ближнім порядком необхідно розуміти такі параметри, як довжини і кути зв'язків, а також середнє число найближчих сусідніх атомів. Необхідно також зазначити, що параметри ближнього порядку мають деякий статистичний розкид, і їх середні значення можуть дещо відрізнятися від значень в ідеальному кристалі.

Охарактеризувати ближній порядок можна за допомогою функції радіального розподілу атомів (ФРРА).

Ця функція має статистичний характер і визначає ймовірність зустрічі з атомом того чи іншого сорту, що знаходиться на відстані r від атома, який взятий за початок відліку. Функція ФРРА є сферично-симетричною. З її допомогою можна знайти величини середніх відстаней між атомами r. Здебільшого ФРРА залежно від r має два-три максимуми, що відповідають першим, другим, третій найближчим сусідам. Наприклад на електронограмі, наведеній на рис. 9.22 таких максимумів два. З причин розмитості максимумів функції ФРРА можна говорити про деякий набір відстаней, що знаходяться близько до найбільш ймовірного значення r. Максимум, що знаходиться поблизу центрального, відповідає деякому r = rmax. Параметрами, що характеризують ближній порядок, є величини найближчих відстаней першого, другого і (якщо є на електронограмі) третього порядків.

Відповідно до цих відстаней визначають координаційні числа, тобто число атомів навколо атома, обраного за початковий, у першій, другій і третій координаційних сферах. У будь-якій точці аморфної речовини цей порядок зберігається на відстані до десяти або трохи більше ангстрем від атома, що взятий за початок відліку.

Проводячи відповідні обчислення із використанням експериментального розподілу інтенсивності дифрагованих на об’єкті електронів, можна знайти функцію ФРРА без будь-яких попередніх припущень про будову речовини.

При цьому надважливим завданням є отримання експериментальної кривої розподілу інтенсивності по можливості з малою похибкою. Якщо це вдається, то всі інші похибки, що виникають при подальших розрахунках, як правило, виявляються незначними. Оскільки інтерес до дослідження неупорядкованих у структурному відношенні речовин помітно зріс у зв'язку з їх можливим використанням у мікроелектроніці та оптиці, а також у багатокомпонентних надтвердих покриттях, виникає необхідність в більш досконалих дослідженнях ближнього порядку. На сьогодні існують три методи дослідження ближнього порядку:

рентгенівський, електронографічний та нейтронографічний. Важливо підкреслити, що зазначені вище методи взаємно доповнюють один одного. Основна відмінність цих методів полягає в тому, що рентгенівські промені розсіюються електронною оболонкою атома;

електрони, як зазначалося раніше, розсіюються сумарним потенціалом атома, тобто в розсіюванні беруть участь і електронна оболонка атома і його ядро, а нейтрони розсіюються винятково ядрами атомів. На відміну від інших методів дифракція електронів дозволяє отримувати електронограму за лічені секунди. Крім того, кількість досліджуваного матеріалу методом дифракції електронів порівняно з іншими методами може бути досить малою.

Нейтронографія порівняно з рентгенівським і електронографічним методами переважає в тому, що фактори розсіювання для нейтронів ізотропні, тобто відсутня кутова залежність атомних факторів розсіювання нейтронів. Недоліком методів електромонографії і нейтронографії є труднощі урахування фону.

Необхідно зауважити, що для отримання інформації про структуру об'єкта використовується пружне розсіювання електронів, тобто розсіювання, що відбувається без втрати енергії та зміни довжини хвилі електронів. Таке розсіювання визначає структуру електронограми, аналіз якої дозволяє встановити будову об'єкта.

В останньому поколінні ПЕМ зображення електронограм формується у цифровому вигляді. Це дозволяє за допомогою відповідних програм обробляти ці електронограми і отримувати ФРРА. При використанні фотографування електронограм на фотопластинку або фотоплівку процес їх обробки значно ускладнюється, оскільки чутливість емульсії, а також деякі особливості приготування хімікатів для обробки фотоматеріалів можуть внести суттєві корективи в точність ФРРА. При цьому в обох варіантах отримання зображення електронограм необхідно звернути увагу на досить високу інтенсивність центрального дифракційного максимуму.

Для того щоб центральна частина електронограми не засвічувала сусідні області електронограми, під час експозиції як правило використовується спеціальна заслінка, що перекриває центральний пучок. Вона вводиться перед початком експозиції і забирається незадовго до її кінця. Це, з одного боку, зменшує інтенсивність центральної частини електронограми, а з іншого – забезпечує точну фіксацію місця розташування центра електронограми.

При дослідженні аморфних матеріалів за допомогою фотопластин робиться серія знімків із кратними експозиціями (наприклад, 2; 4; 8; 16 і 32 секунди). Потім у

–  –  –

Sr, (9.55) 2d де d – міжплощинна відстань. У подальшому, використовуючи міжплощинні відстані й інтенсивність відповідних максимумів, розраховують масштаб електронограм по осі Sr. Правильність вибору масштабу визначається збігом значень розрахованого масштабу для різних рефлексів еталона, наприклад, Al. Після визначення масштабу проводиться вимірювання зображень електронограм досліджуваної речовини із розрахованим кроком по осі Sr. За умови відсутності електронної реєстрації інтенсивності дифрагованих пучків, оцінка їх інтенсивності проводиться фотографічним методом, який базується на фотометричному вимірюванні почорніння Dr фотопластини. Очевидно, що Dr = f(Itr), (9.56) де I – інтенсивність пучка; tr – час експозиції. При мікрофотометричних вимірюваннях Dr визначають як логарифм відношення інтенсивності світлового пучка io, що впав на дану ділянку електронограми, до інтенсивності світлового пучка i, що пройшов через електронограму. Як правило, у цьому випадку Dr= log (io/i). (9.57) Отриманий після зазначених розрахунків один із видів залежності Dr(S) представлени на рис. 9.23 а. У певному

–  –  –


Купить саженцы и черенки винограда

Более 140 сортов столового винограда.


інтенсивності розсіювання електронів I(Sr). Із закону взаємозамінності випливає, що для двох ділянок зразка, які мають однакові почорніння, буде виконуватися таке співвідношення:

I1 t 0. (9.60) I 0 t1 Для використання виразів (9.59) і (9.60) отримані залежності Dr=f(Sr) перебудовуються в іншому масштабі.

По осі ординат відкладають почорніння, а по осі абсцис – lg(tr) при різних значеннях хвильового вектора Sr (Dr= f [lg (tr)]) (див. рис. 9.23 б). Із отриманої при цьому серії кривих почорніння вибирають характеристичну криву таким чином, щоб при її паралельному зміщенні щодо осі абсцис експериментальні точки інших кривих почорніння добре з нею збігалися. На рис. 9.24 характеристична крива зображена окремо. При цьому кінці характеристичної кривої добудовують для розширення меж вимірювання (рис. 9.24 б). У подальшому, використовуючи співвідношення (9.60), необхідно кожну експериментальну точку кривої почорніння (для кожної експозиції при фіксованому значенні Sr) перенести на характеристичну криву паралельним зміщенням щодо осі абсцис і записати в таблицю відповідне значення експозиції. Для кожної експозиції отримаємо інтенсивність розсіювання у відносних одиницях (рис. 9.24 б). Підрахувавши середнє арифметичне значення експериментальної інтенсивності розсіювання електронів для кожного значення Sr у відносних одиницях Iе, складаємо таблицю та будуємо відповідний графік (рис. 25 а). Для більш точних розрахунків середніх значень Iе

–  –  –

беремо до уваги набір більш близьких за величиною інтенсивностей розсіювання. Перевіркою правильності розрахунку є плавний графік цієї функції, тобто наявність максимумів або мінімумів свідчать про можливу помилку в розрахунках. Паралельно з нормуваннями проводиться урахування фону. Фон на електронограмі складається з некогерентного розсіювання електронів на залишковому Ie/f2, Ic/f2, відн. oд.

Ie, відн. oд.

–  –  –

Рисунок 9.25 – Залежність експериментальної інтенсивності розсіювання електронів від параметра Sr.

газі всередині приладу, на краях діафрагм та з багаторазового розсіювання на об’єкті дослідження.

Неправильне урахування фону веде до недостатньо точної кривої експериментальної інтенсивності, а це призводить до появи помилкових піків і негативних ділянок у функції радіального розподілу атомів. Із цих причин етап обліку фону є найбільш важливим у розрахунку ФРРА.

Експериментальна інтенсивність Iе(Sr) складається з суми когерентної частини I(Sr) та інтенсивності фону (Sr):

Iе(Sr) = I(Sr) + (Sr). (9.61) При цьому інтенсивність когерентного розсіювання нормується за допомогою співвідношення

–  –  –

Маючи всі параметри нормального розподілу для першого піка ФРРА на ділянці від r1 до r3 з експериментальної кривої вилучаємо перший максимум (рис. 9.27 б). Отримана після цієї операції функція «відкриває» лівий фронт другого максимуму ФРРА. За викладеними раніше правилами з отриманої функції можна визначити параметри другої координаційної сфери.

Вилученням першого і другого дифракційних максимумів з ФРРА (див. рис. 9.27 в) дозволяє визначити параметри третьої координаційної сфери. У кінцевому підсумку отримані параметри нормальних розподілів (rj, Nj), відповідають параметрам ближнього порядку в розташуванні атомів об’єктів дослідження, а значення j описують середньоквадратичні відхилення довжин хімічних зв'язків атомів, що входять до відповідної координаційної сфери.

9.5 СТРУКТУРА РЕАЛЬНИХ

ЕЛЕКТРОНОГРАМ

Дифракція електронів на ідеальних достатньо тонких кристалах, як правило, складається з чітких дифракційних максимумів, що мало відрізняються за розмірами один від одного. Питання про структуру дифракційних максимумів, пов’язану з формою кристалів частково уже розглянуто в розділі 9.4.5. Разом з тим існує значна кількість інших чинників, які також впливають на структуру електронограм. До останніх необхідно віднести наявність різного виду структурних дефектів, деформацію кристалів і наявність в об’єкті дослідження більше однієї фази.

Завдяки зазначеним чинникам може відбуватися розширення або видовження дифракційних максимумів, їх розщеплення на групи, тобто поява сателітів, або утворення суцільних тяжів. Вивчаючи відмінності реальних електронограм від електронограм, що формуються на основі ідеальних кристалів (див. розд. 9.4.3), можна отримати додаткову інформацію про кристалічну будову об’єкта дослідження.

9.5.1 Ефекти пружних деформацій Вузли оберненої гратки і відповідні дифракційні максимуми електронограми можуть розширюватися або витягатися в результаті наявності в кристалі пружних деформацій, що виникають завдяки неоднорідності об’єкта дослідження або підведення до нього зовнішніх сил.

Геометричні характеристики відповідних електронограм можна встановити, використовуючи підхід, який розглянутий при вивченні ефекту форми (див. розд. 9.4.5).

Виходячи з цього досить важко відрізнити ефекти деформацій від ефектів форми. Основна відмінність прояву цих двох випадків базується на тому, що розтягнення вузлів оберненої гратки за наявності пружних деформацій сильно залежить від їх індексів і відсутня на нульовому вузлі, а для ефекту форми навпаки відбувається однакове розширення всіх вузлів оберненої гратки, включаючи нульовий вузол. Разом із тим такий метод розрізнення двох ефектів не завжди спрацьовує. Так іноді подвійна дифракція може призводити до появи тяжів на дифракційних плямах, які згідно з теорією, повинні залишатися точковими.



Pages:     | 1 |   ...   | 13 | 14 || 16 | 17 |   ...   | 18 |
Похожие работы:

«МЕТОДИЧНІ ВКАЗІВКИ із застосування засобу Біохлор з метою дезінфекції 1. ЗАГАЛЬНІ ПОЛОЖЕННЯ 1.1. Повна назва засобу – дезінфекційний засіб Біохлор.1.2. Фірма виробник – ТОВ Альянс групп (Україна).1.3. Склад засобу, вміст діючих та допоміжних речовин: гіпохлорит натрію (діюча речовина), а також допоміжні речовини (ПАР, антикорозійні, стабілізуючі добавки, ароматизатор). Початковий вміст активного хлору у концентраті засобу 5,0 % – 9,0 %. 1.4. Форма випуску і фізико-хімічні властивості засобу....»

«Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України Сумський державний університет Кафедра прикладної фізики МЕТОДИЧНІ ВКАЗІВКИ до оформлення курсових робіт з дисципліни «Технологічні основи електроніки» для студентів спеціальності 7(8).05080201 – електронні прилади та пристрої денної форми навчання Суми 2012 Затверджено на засіданні кафедри прикладної фізики протокол № від 2012 р. Укладач, к.ф.-м. н., асистент О.П. Ткач ЗМІСТ 1. Місце курсової роботи в навчальному процесі. 4 2. Структура...»

«“ЗАТВЕРДЖУЮ” Ректор Житомирського державного університету імені Івана Франка проф. Саух П.Ю._ 3 лютого 2014 р. Програма вступного іспиту з хімії на освітньо-кваліфікаційний рівень магістр (денна і заочна форми навчань) ПОЯСНЮВ АЛЬ НА ЗАПИСКА Програма вступного екзамену з хім ії при вступі на освітньо -кваліфікаційний рівень магістр включає розділи таких хім ічних дисциплін як будова речовини, закономірності перебігу хімічних реакцій, дисперсні си стеми, електро хімічні процеси, методи хімічного...»

«МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ НАЦІОНАЛЬНИЙ ПЕДАГОГІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМЕНІ М.П. ДРАГОМАНОВА СУМСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ ПЕДАГОГІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМЕНІ А.С. МАКАРЕНКА ІНСТИТУТ ПЕДАГОГІКИ АПН УКРАЇНИ МАТЕРІАЛИ ВСЕУКРАЇНСЬКОЇ НАУКОВО-МЕТОДИЧНОЇ КОНФЕРЕНЦІЇ РОЗВИТОК ІНТЕЛЕКТУАЛЬНИХ УМІНЬ І ТВОРЧИХ ЗДІБНОСТЕЙ УЧНІВ ТА СТУДЕНТІВ У ПРОЦЕСІ НАВЧАННЯ МАТЕМАТИКИ 3-4 грудня 2009 р., м. Суми ДО 85 РІЧНИЦІ СУМСЬКОГО ДЕРЖАВНОГО ПЕДАГОГІЧНОГО УНІВЕРСИТЕТУ ІМЕНІ А.С. МАКАРЕНКА Суми Видавництво СумДПУ імені А.С....»

«УДК 371.3; 373.5.02 ББК 74.202.4я73 В753 Рекомендовано науково-методичною комісією Луганського державного інституту культури і мистецтв Протокол №9 від 08.06.2011р.Рецензенти: В. В. Румянцев, завідувач фізико-технологічним відділенням Донецького національного університету – Донецького фізико-технічного інституту ім. О. О. Галкіна НАН України, виконавчий директор асоціації розвитку освітніх та наукових мереж, доктор фізико-математичних наук; В. П. Майданюк, доцент кафедри програмного...»

«ДНІПРОПЕТРОВСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ УНІВЕРСИТЕТ БСОУЛ ІБРАХІМ АЗІЗ УДК 539.2 : 537.226.4 ФІЗИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ КРИСТАЛІВ Li2Ge7O15 В ОБЛАСТІ ФАЗОВОГО ПЕРЕХОДУ 01.04.07. Фізика твердого тіла Автореферат дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук Дніпропетровськ 1998 Дисертацією є рукопис Робота виконана в Дніпропетровському державному університеті Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук, професор Кудзін Аркадій Юрійович Дніпропетровський держуніверситет Офіційні...»

«ISSN 2078 6999. Вісник Львівського університету. Серія філософські науки. 2012. Випуск 15. С. 70–81 Visnyk of the Lviv University. Series Philosophical science. Issue 15. P. 70–81 УДК 165+ 165.6:14 ТРАНСФОРМАЦІЯ КЛАСИЧНОЇ КОНЦЕПЦІЇ СУБ’ЄКТА В ГЕРМЕНЕВТИЧНІЙ ФЕНОМЕНОЛОГІЇ МАРТІНА ГАЙДЕҐЕРА Ірина Пухта Львівський національний університет імені Івана Франка, вул. Університетська, 1, м. Львів, 79000, Україна, e-mail: iryna.pukhta@gmail.com Розглянуто особливості трансформації класичної концепції...»

«ТЕОРІЯ ТЕПЛОВИХ ДВИГУНІВ ТЕРМОГАЗОДИНАМІЧНИЙ РОЗРАХУНОК ГАЗОТУРБІННИХ ДВИГУНІВ За редакцією проф. Ю. М. Терещенка Рекомендовано Міністерством освіти і науки України як навчальний посібник для студентів вищих навчальних закладів, які навчаються за напрямом підготовки «Авіата ракетобудування» Київ Видавництво Національного авіаційного університету «НАУ-друк» УДК 629.735.036:533.697(075.8) ББК 0551.410я7 Т 338 Автори: Ю.М. Терещенко, М.С. Кулик, Л.Г. Волянська, C.О. Дмитрієв, В.В. Панін, М. М....»

«Державний університет інформаційно-комунікаційних технологій БУШМА ОЛЕКСАНДР ВОЛОДИМИРОВИЧ УДК 621.317.7 ОПТОЕЛЕКТРОННІ СИСТЕМИ ВІДОБРАЖЕННЯ ДАНИХ НА ОСНОВІ ДИСКРЕТНО-АНАЛОГОВИХ ІНФОРМАЦІЙНИХ МОДЕЛЕЙ Спеціальність 05.12.20 – оптоелектронні системи АВТОРЕФЕРАТ дисертації на здобуття наукового ступеня доктора технічних наук Київ 2007 Дисертацією є рукопис. Робота виконана в Державному університеті інформаційно-комунікаційних технологій Міністерства транспорту та зв'язку України Науковий...»

«Національний науковий центр “Інститут ґрунтознавства та агрохімії імені О.Н. Соколовського” Хотиненко Ольга Миколаївна УДК 631.459.3 ОЦІНКА ПРОТИДЕФЛЯЦІЙНОЇ СТІЙКОСТІ ГРУНТОВОГО ПОКРИВУ ПІВДЕННОГО СТЕПУ УКРАЇНИ 06.01.03 – агрогрунтознавство і агрофізика Автореферат дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата сільськогосподарських наук Харків 2008 Дисертацією є рукопис Робота виконана в Миколаївському державному аграрному університеті, Міністерство аграрної політики України. Науковий...»




Продажа зелёных и сухих саженцев столовых сортов Винограда (по Украине)
Тел.: (050)697-98-00, (067)176-69-25, (063)846-28-10
Розовые сорта
Белые сорта
Чёрные сорта
Вегетирующие зелёные саженцы


 
2013 www.uk.x-pdf.ru - «Безкоштовна електронна бібліотека»